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Silikonbeschichtungen

EDXRF / XRF für das Gewicht der Silikonbeschichtung

Analyse von Si-Beschichtungen für Webanwendungen

EDXRF, ein primärer Typ von XRF (Röntgenfluoreszenz), ist seit langem eine vertraute Technologie für Trennbeschichtungen, Verarbeiter, Hersteller von vakuumgeformten Kunststoffen und andere Industrien, die Silikonöle als Barriereschichten, Trennbeschichtungen oder Denesting-Mittel verwenden. XRF ist eine Standardtechnik, die in der gesamten Si-Beschichtungsindustrie eingesetzt wird, um Beschichtungsgewicht, -dicke und -zusammensetzung zu bestimmen. EDRFA-Instrumente (energiedispersive Röntgenfluoreszenz) sind einfach zu bedienen und bieten niedrige Betriebskosten.

Auf Papier- und Kunststoffsubstrate aufgebrachte Silikonbeschichtungen modifizieren die Trenneigenschaften eines Produkts wie Etiketten oder Verpackungen. Wenn zu wenig Silikon aufgetragen wird oder Bereiche der Bahn vorhanden sind, in denen die Silikonbeschichtung fehlt, werden die Klebetrenneigenschaften bei Trennanwendungen nachteilig beeinflusst oder die Verdichtungseigenschaften des vakuumgeformten Kunststoffs werden beeinträchtigt. Diese Umstände können zu Produktablehnungen oder Unterbrechungen in der Fertigung und anderen nachgelagerten Prozessen führen. Wenn zu viel Silikon aufgetragen wird, steigen die Kosten der hergestellten Rolle, was die Rentabilität verringert und in einigen Fällen die Akzeptanz und Leistung des Endprodukts beeinträchtigt.

Applied Rigaku Technologies, Inc. ist auf Benchtop- und Prozess-EDRFA-Spektrometer spezialisiert. Unsere Produkte dienen Webanwendungen mit der Fähigkeit, Silikonbeschichtungsgewichtsanalysen in Echtzeit durchzuführen.

Benchtop-EDXRF für Si-Schichtgewichtsanalyse

Für schnelle und genaue At-Line-Lösungen ermöglichen die Benchtop-EDRFA-Analysatoren der NEX QC-Serie die Messung von sehr geringen Silikonbeschichtungsgewichten und Metallkatalysatoren in Silikonbeschichtungen, alles mit einem Instrument. Anspruchsvolle Anwendungen, die mit früheren Technologien entweder marginal oder nicht möglich waren, sind jetzt Realität.

Durch einfaches Platzieren eines Testcoupons in der Analysekammer bieten die EDRFAs der NEX QC-Serie QC-Technikern ein ideales Werkzeug zur schnellen Überprüfung der Dicke und Zusammensetzung der Silikonbeschichtung. Die Analysegeräte der NEX QC-Serie wurden speziell für die Qualitätskontrolle entwickelt und vereinen überlegene Leistungsfähigkeit mit einem erschwinglichen Preis. Die intuitive Touchscreen-Oberfläche und der integrierte Drucker machen diese Instrumente einfach zu bedienen und bequem. Die Elementaranalysatoren der NEX QC-Serie tragen dazu bei, eine gleichbleibende Produktqualität aufrechtzuerhalten, während die Bestandskosten im Gleichgewicht bleiben und die Wahrscheinlichkeit einer Produktablehnung minimiert wird.

Inline-Si-Schichtgewichtsprofilierung in Echtzeit

Der Rigaku NEX LS – ein scannender Si-Schichtgewichts-Prozessanalysator – wurde speziell für die Anforderungen der anspruchsvollen Bedingungen in Silikonbeschichtungsprozessen entwickelt und hilft bei der Aufrechterhaltung der routinemäßigen Qualitätskontrolle. Mit der EDRFA-Technologie der dritten Generation repräsentiert der NEX LS die nächste Evolution von Scanprozess-Beschichtungsanalysatoren für Bahnanwendungen.

Zur kontinuierlichen Überwachung und Steuerung bietet der Linearscanner NEX LS eine Si-Schichtgewichtsprofilierung Ihres Prozesses in Echtzeit. Das NEX LS besteht aus einem Messkopf, der an einem motorisierten Rahmen montiert ist, der den Kopf über eine sich bewegende Bahn hin und her trägt. Echtzeit-Datenanzeige als grafisches Querrichtungs- und Maschinenrichtungsprofil. Benutzer geben grundlegende Informationen über Proben ein, und die fortschrittliche NEX LS-Software unterstützt alle Aspekte der Prozesssteuerung. Echtzeit-Scannen für engere Prozesskontrolltoleranzen bringt die EDRFA-Technologie für die Analyse von Silikonbeschichtungen auf die nächste Stufe.

Zusätzlich zu Querrichtungs- und Maschinenrichtungsprofilen in Echtzeit sind benutzerdefinierte Rezepte einschließlich Scangeschwindigkeiten und Messeinstellungen im Sekundenbruchteil, erweiterte Rollenberichte und Rohdatenprotokollierung für Rückverfolgbarkeit und Audits enthalten. Die vollständige Aufzeichnung der Rolle umfasst Messwert, Datum, Uhrzeit, Länge, Produktname und andere Informationen. Ebenfalls enthalten sind durchschnittliche Web-Scan- und individuelle Zonenmessungen.

Atline- und Inline-Lösungen für Si-Beschichtungsanwendungen

  • Komplettlösung für Silikon-Release-Coater
  • Silikonanalyse auf Papier, tonbeschichtetem Papier und dünnen Trennfolien
  • Proprietäre Silikon-auf-Ton-Papieralgorithmen
  • Konverter – Silikon auf Kunststoff oder Papier
  • Vakuumgeformte Kunststoffe – Entstapeln von Silikonbeschichtungen
  • Spezialkunststoffe

Unsere Garantie

Applied Rigaku Technologies, Inc. bietet eine 2-Jahres-Garantie auf alle von ihr hergestellten EDXRF-Spektrometer. Diese branchenführende Herstellergarantie zeigt unser Engagement für Qualität und unser Engagement für die Maximierung der Betriebszeit für die Prozesse und Anwendungen unserer Kunden.

Als Spezialist für Atline- und Inline-Analyselösungen verwenden die robusten Designs von Applied Rigaku Technologies hochwertige Materialien, und unsere Mitarbeiter sind stolz auf ihr Handwerk. Tritt ein Gewährleistungsmangel auf, reagieren wir schnell. Übliche Garantiepläne erstrecken sich oft nicht über ein Jahr hinaus, was diese Abdeckung zu einem Beweis für die hervorragende Gesamtleistung der EDRFA-Produkte und -Dienstleistungen von Rigaku macht.

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