Análisis de recubrimientos de silicona

EDXRF para análisis del peso de la capa de silicona

Análisis de revestimientos de silicio para aplicaciones web

Los analizadores elementales Rigaku EDXRF sirven aplicaciones web, realizando análisis de peso de capa de silicona en línea o perfiles de peso de capa de silicona en línea.

Además, EDXRF, un tipo común de XRF (fluorescencia de rayos X), ha sido durante mucho tiempo una tecnología familiar para recubrimientos de liberación, convertidores, fabricantes de plásticos formados al vacío y otras industrias que utilizan aceites de silicona como capas de barrera, recubrimientos de liberación o agentes de desprendimiento. . XRF es una técnica estándar empleada en la industria de recubrimientos de Si para determinar el espesor del recubrimiento de silicona o el peso del recubrimiento, o la composición elemental de un producto. Además, los instrumentos EDXRF son fáciles de usar para el análisis del peso de la capa de Si y ofrecen un bajo costo de propiedad.

La aplicación insuficiente o excesiva de silicona sobre sustratos de papel y plástico puede alterar significativamente las características de liberación de un producto, como etiquetas o embalajes. En consecuencia, esto puede provocar interrupciones en el proceso de fabricación y una reducción de la rentabilidad. Para ayudar con estos desafíos, Applied Rigaku Technologies ofrece analizadores elementales de alta calidad para un análisis confiable de recubrimientos de silicona, brindando el control que necesita para optimizar sus procesos.

NEX LS, un analizador de recubrimientos de silicona en línea, permite un monitoreo continuo sin detener la producción, y NEX QC Series Ofrecemos análisis del peso de la capa de silicona en línea.

nuestra garantia

Ofrecemos una garantía de 2 años en todos los espectrómetros EDXRF que producimos. Esta garantía del fabricante líder en la industria demuestra nuestro compromiso con la calidad y la dedicación para maximizar el tiempo de actividad de sus procesos o aplicaciones. Además, Applied Rigaku Technologies utiliza materiales de calidad y nuestros empleados capacitados se enorgullecen de su oficio. Si ocurre una deficiencia relacionada con la garantía, respondemos rápidamente. Además, los planes de garantía generalmente no se extienden más allá de un año, lo que hace que esta cobertura sea un testimonio de la excelencia general de los productos Rigaku EDXRF.

Mesa de trabajo EDXRF para análisis de peso de capa de Si

NEX QC+ Si en papel

Para un análisis rápido del peso de los recubrimientos de silicona en línea, los analizadores de mesa NEX QC Series permiten medir pesos de recubrimientos de silicona y catalizadores metálicos muy bajos en recubrimientos de silicona. Las aplicaciones desafiantes que eran marginales o imposibles con tecnologías anteriores ahora son una realidad.

Además, los analizadores NEX QC Series brindan a los técnicos de control de calidad una herramienta ideal para verificar rápidamente el espesor y la composición del recubrimiento de silicona simplemente colocando una muestra de prueba en la cámara de análisis. Especialmente diseñado para el control de calidad de rutina, el NEX QC Series combina capacidades de rendimiento superiores con asequibilidad. Además, la intuitiva interfaz de pantalla táctil y la impresora incorporada hacen que estos instrumentos sean fáciles de usar y convenientes. También se encuentran disponibles opciones de cambiador automático de muestras para análisis de alto rendimiento.

Los analizadores NEX QC Series lo ayudan a mantener una calidad constante del producto mientras mantienen los costos de inventario equilibrados y minimizan el rechazo de productos.

Perfilado de peso de Si Coat en línea y en tiempo real

Para el control de procesos en línea, el escáner lineal NEX LS ofrece perfiles de peso de capa de Si de su proceso en dirección transversal y en dirección de la máquina en tiempo real. Puede identificar rápidamente problemas y tomar decisiones inmediatas de control de calidad para todo el rollo mientras se produce.

El software NEX LS es fácil de usar y proporciona monitoreo y control continuos. Además, la interfaz de usuario intuitiva le permite definir recetas fácilmente, incluidas velocidades de escaneo y configuraciones de medición de menos de un segundo, informes de rollo avanzados y registro de datos sin procesar para trazabilidad y auditorías. Puede personalizar informes, exportarlos como PDF o CSV y almacenar copias en USB o en una red utilizando protocolos de comunicación estándar de la industria. NEX LS ofrece análisis de recubrimientos de Si en tiempo real y es una herramienta invaluable para la fabricación rollo a rollo (R2R).

Las mediciones se transmiten a una consola y a una computadora industrial con pantalla táctil mientras el cabezal analítico se desplaza hacia adelante y hacia atrás a través de una red en movimiento. Los datos en tiempo real se muestran como un perfil gráfico en dirección transversal y en dirección de la máquina. Puede elegir el modo de escaneo completo o posiciones de análisis fijas definidas por el usuario.

Análisis de escaneo completo NEX LS
Posiciones de análisis fijas NEX LS

Soluciones en línea y en línea para aplicaciones de revestimiento de Si

NEX LS: analizador de recubrimientos de proceso para aplicaciones de bobinas y bobinas

  • Solución total para revestimientos de liberación de silicona
  • Análisis de silicona en papel, papel recubierto de arcilla y revestimientos de liberación de película delgada
  • Silicona patentada en algoritmos de papel recubierto de arcilla
  • Convertidores – silicona sobre plástico o papel
  • Plásticos formados al vacío: eliminación de revestimientos de silicona
  • Plásticos especiales
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