Géométrie cartésienne avancée de nouvelle génération EDXRF pour une analyse élémentaire qualitative et quantitative rapide
Principaux avantages et fonctionnalités
NEX CG II Series, de puissants spectromètres à fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de deuxième génération, permettent une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons - des huiles et liquides aux solides, métaux, polymères, poudres, pâtes, revêtements et films minces.
- Analyse élémentaire non destructive du sodium (Na) à l'uranium (U)
- Analyses élémentaires rapides de solides, liquides, poudres, revêtements et films minces
- Excitation indirecte pour des limites de détection exceptionnellement basses
- Tube à rayons X haute puissance 50 kV 50 W (NEX CG II) ou 65 kV 100 W (NEX CG II+)
- Détecteur de dérive au silicium (SDD) à grande surface et haut débit
- Analyse dans l'air, l'hélium ou le vide
- QuantEZ puissant et facile à utiliser® logiciel avec interface utilisateur multilingue
- Logiciel avancé RPF-SQX Fundamentals Parameters avec Scattering FP
- Algorithme avancé Rigaku Profile Fitting (RPF) pour la déconvolution maximale
- Divers passeurs d'échantillons automatiques acceptant des échantillons jusqu'à 52 mm
- Faible coût de possession soutenu par une garantie de 2 ans
Vidéo
Notes complémentaires
- Présentation du produit
- Notes d'application
- Documents hérités NEX CG
- Géométrie cartésienne
Contrôle de la qualité industrielle aux applications de recherche avancées
Les Rigaku NEX CG II Series sont des analyseurs multi-éléments polyvalents, idéaux pour mesurer des concentrations d'éléments ultra-faibles et traces jusqu'à des niveaux de pourcentage en poids élevés. Ces analyseurs servent de nombreuses industries et sont particulièrement bien adaptés à la détermination semi-quantitative du contenu élémentaire dans des inconnues totales. Les applications vont de l’assurance qualité industrielle et en usine à la recherche et au développement. Ils sont faciles à utiliser pour les opérateurs non techniques mais suffisamment puissants pour une utilisation experte dans les laboratoires commerciaux et les installations de R&D. Les utilisateurs peuvent atteindre les limites de détection les plus basses et gérer facilement des applications complexes. Les NEX CG II Series sont idéaux pour tester les sols agricoles et les matières végétales, analyser les aliments finis pour animaux, mesurer les huiles usées, la surveillance environnementale, les produits pharmaceutiques, les cosmétiques et bien d'autres.
Obtenez une puissance analytique supérieure avec NEX CG II Series
Le NEX CG II Series atteint une puissance analytique supérieure avec un tube à rayons X à anode en palladium à fenêtre d'extrémité de 50 kV 50 W (NEX CG II) ou 65 kV 100 W (NEX CG II+), cinq cibles secondaires couvrant la gamme complète des éléments du sodium à l'uranium (Na – U). et un détecteur de dérive de silicium à grande surface et à haut débit. Leur noyau optique unique, combiné au logiciel avancé de paramètres fondamentaux RPF-SQX de Rigaku, fournit les mesures EDXRF les plus sensibles de l'industrie.
De plus, les utilisateurs peuvent obtenir des mesures à haut débit avec diverses options d'échantillonneur automatique, prenant en charge des échantillons de 32, 40 et 52 mm. Les analyseurs NEX CG II Series ne nécessitent ni eau de refroidissement ni azote liquide, et le boîtier mesure 463 mm (L) × 492 mm (P) × 382 mm (H). Cet encombrement réduit en fait un instrument attrayant pour tout laboratoire commercial ou installation de R&D. Les modèles disponibles sont le NEX CG II pour une excellente résolution spectrale pour les traces de pics ou le NEX CG II+ pour les applications plus exigeantes nécessitant un système plus puissant.
Doté d'un tube à rayons X de 65 kV 100 W, le NEX CG II+ effectue l'analyse des éléments traces pour les matériaux pharmaceutiques, les catalyseurs, les cosmétiques, la surveillance des métaux toxiques dans les aérosols sur les filtres à air, ainsi que l'analyse des traces de métaux lourds et des éléments des terres rares (REE), et d'autres applications nécessitant un degré élevé de sensibilité.
Géométrie cartésienne et polarisation pour la sensibilité au niveau des traces
Contrairement aux spectromètres EDXRF conventionnels, les NEX CG II Series sont des systèmes d'excitation indirecte utilisant des cibles secondaires plutôt que des filtres tubulaires. L'excitation monochromatique et polarisée des cibles secondaires améliore considérablement les limites de détection des éléments dans des matrices hautement diffusantes comme l'eau, les hydrocarbures et les matériaux biologiques. L'excitation de la cible secondaire dans une géométrie cartésienne à 90° élimine le bruit de fond. En conséquence, NEX CG II Series apporte un nouveau niveau de sensibilité analytique à la technologie XRF. Les utilisateurs peuvent mesurer des concentrations d’éléments ultra-faibles et traces, même dans des types d’échantillons difficiles.
Contrôle facile des instruments avec un logiciel d'analyse qualitative et quantitative avancé
Les analyseurs NEX CG II Series sont faciles à utiliser avec QuantEZ, un puissant logiciel sur PC offrant un contrôle intuitif des instruments avec une navigation simple dans les menus et une interface EZ Analysis personnalisable. Les utilisateurs peuvent maximiser leur temps et leur productivité grâce à des opérations de routine simplifiées et créer leurs propres méthodes à l'aide d'un simple assistant de barre de flux. De plus, diverses options logicielles sont disponibles pour répondre aux besoins des utilisateurs, notamment SureDI, prenant en charge la conformité à la norme 21 CFR Part 11.
RPF-SQX réduit le besoin de normes
L'analyse qualitative et quantitative avancée est alimentée par le logiciel RPF-SQX Fundamental Parameters (FP) de Rigaku, doté de la technologie Rigaku Profile Fitting (RPF) et Scattering FP. Ce logiciel intégré robuste permet une analyse semi-quantitative de presque tous les types d'échantillons sans étalons — et une analyse quantitative rigoureuse avec des étalons. La méthode Scattering FP de Rigaku estime automatiquement la concentration des éléments non mesurables à faible numéro atomique (H à F) et fournit les corrections appropriées.
Les normes d'étalonnage peuvent être coûteuses et difficiles à obtenir pour de nombreuses applications. Avec RPF-SQX, le nombre de normes requises est considérablement réduit, ce qui réduit considérablement le coût de possession et réduit les exigences de charge de travail pour l'exécution d'analyses de routine.
Les notes d'application suivantes sont des documents hérités NEX CG de première génération. Ils reflètent les performances minimales réalisables sur le NEX CG II.
Le noyau optique à géométrie cartésienne 3D unique augmente considérablement le rapport crête-arrière-plan
NEX CG II Series s'appuie sur l'héritage de NEX CG consistant à utiliser la géométrie cartésienne et des cibles secondaires pour la sensibilité au niveau des traces. Les analyseurs NEX CG II Series sont dotés d'un noyau optique à géométrie cartésienne à couplage étroit unique et amélioré qui augmente considérablement le rapport signal/bruit et offre une analyse élémentaire améliorée.
Les spectromètres NEX CG II Series sont des systèmes d'excitation indirecte utilisant des cibles secondaires plutôt que des filtres tubulaires. L'excitation indirecte élimine le bruit de fond, ce qui permet d'obtenir les limites de détection les plus basses. Ces résultats sont obtenus avec un tube à rayons X à anode en palladium à fenêtre d'extrémité en option 50 kV 50 W (NEX CG II) ou 65 kV 100 W (NEX CG II+), une excitation monochromatique ou polarisée à partir de 5 cibles secondaires et une haute- détecteur de dérive de silicium de grande surface performant.
Les utilisateurs peuvent acquérir un spectre pratiquement sans bruit de fond grâce à la géométrie cartésienne complète à 90° et à l'excitation indirecte. Les rayons X polychromatiques émis par le tube à rayons X irradient la cible secondaire. La cible secondaire est excitée et émet une fluorescence, émettant des rayons X monochromatiques vers l'échantillon. Le détecteur enregistre ensuite les spectres de l'échantillon.