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Géométrie cartésienne avancée de nouvelle génération EDXRF pour une analyse élémentaire qualitative et quantitative rapide

Principaux avantages et fonctionnalités

Vidéo | Présentation et notes d'application

NEX CG II, un puissant spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de deuxième génération, permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons - des huiles et liquides aux solides, métaux, polymères, poudres , pâtes, revêtements et films minces.

  • Analyse élémentaire non destructive du sodium (Na) à l'uranium (U)
  • Analyses élémentaires rapides des solides, des liquides, des poudres, des revêtements et des films minces
  • Excitation indirecte pour des limites de détection exceptionnellement basses
  • Tube à rayons X haute puissance 50 kV 50 W
  • Détecteur de dérive au silicium (SDD) à grande surface et haut débit
  • Analyse dans l'air, l'hélium ou le vide
  • QuantEZ puissant et facile à utiliser® logiciel avec interface utilisateur multilingue
  • Logiciel avancé RPF-SQX Fundamentals Parameters avec Scattering FP
  • Algorithme avancé Rigaku Profile Fitting (RPF) pour la déconvolution maximale
  • Divers passeurs d'échantillons automatiques acceptant des échantillons jusqu'à 52 mm
  • Faible coût de possession soutenu par une garantie de 2 ans
Rigaku NEX CG II

Vidéo

Notes complémentaires

Contrôle de la qualité industrielle aux applications de recherche avancées

Le Rigaku NEX CG II est un analyseur multi-éléments et polyvalent, idéal pour mesurer les concentrations ultra-faibles et oligo-éléments dans les niveaux de pourcentage. Particulièrement bien adapté à la détermination semi-quantitative du contenu élémentaire dans des inconnus complets, NEX CG II sert de nombreuses industries. Les applications vont de la recherche et du développement à l'assurance qualité industrielle et en usine. Il est facile à utiliser pour les opérateurs non techniques mais suffisamment puissant pour une utilisation experte dans les laboratoires commerciaux et les installations de R&D. Les utilisateurs peuvent atteindre les limites de détection les plus basses et gérer facilement des applications complexes telles que l'analyse des sols agricoles et des matières végétales, l'analyse des aliments finis pour animaux, la mesure des huiles usagées, la surveillance de l'environnement et bien d'autres.

Géométrie cartésienne et polarisation pour la sensibilité au niveau des traces

Contrairement aux spectromètres EDXRF conventionnels, NEX CG II est un système d'excitation indirecte utilisant des cibles secondaires plutôt que des filtres à tube. L'excitation monochromatique et polarisée des cibles secondaires améliore considérablement les limites de détection des éléments dans les matrices hautement diffusantes telles que l'eau, les hydrocarbures et les matériaux biologiques. L'excitation de la cible secondaire en géométrie cartésienne complète à 90° élimine le bruit de fond. En conséquence, NEX CG II apporte un nouveau niveau de sensibilité analytique à la technologie XRF. Les utilisateurs peuvent mesurer des concentrations ultra-faibles et en oligo-éléments, même dans des types d'échantillons difficiles.

Contrôle facile des instruments avec un logiciel d'analyse qualitative et quantitative avancé

NEX CG II est facile à utiliser avec QuantEZ, un puissant logiciel sur PC offrant un contrôle intuitif de l'instrument avec une navigation simple dans les menus et une interface d'analyse EZ personnalisable. Les utilisateurs peuvent maximiser leur temps et leur productivité avec des opérations de routine simplifiées et créer leurs propres méthodes à l'aide d'un simple assistant de barre de flux.

RPF-SQX réduit le besoin de normes

L'analyse qualitative et quantitative avancée est alimentée par le logiciel RPF-SQX Fundamental Parameters (FP) de Rigaku, doté de la technologie Rigaku Profile Fitting (RPF) et Scattering FP. Ce logiciel intégré robuste permet une analyse semi-quantitative de presque tous les types d'échantillons sans étalons — et une analyse quantitative rigoureuse avec des étalons. La méthode Scattering FP de Rigaku estime automatiquement la concentration des éléments non mesurables à faible numéro atomique (H à F) et fournit les corrections appropriées.

Les normes d'étalonnage peuvent être coûteuses et difficiles à obtenir pour de nombreuses applications. Avec RPF-SQX, le nombre de normes requises est considérablement réduit, ce qui réduit considérablement le coût de possession et réduit les exigences de charge de travail pour l'exécution d'analyses de routine.

Le noyau optique à géométrie cartésienne 3D unique augmente considérablement le rapport crête-arrière-plan

NEX CG II s'appuie sur l'héritage de NEX CG d'utilisation de la géométrie cartésienne et de cibles secondaires pour la sensibilité au niveau des traces. NEX CG II dispose d'un noyau optique de géométrie cartésienne à couplage étroit unique et amélioré qui augmente considérablement le rapport signal sur bruit et offre une analyse élémentaire améliorée.

Contrairement aux spectromètres EDXRF conventionnels, NEX CG II est un système d'excitation indirecte utilisant des cibles secondaires plutôt que des filtres à tube. L'excitation monochromatique et polarisée des cibles secondaires améliore considérablement les limites de détection des éléments dans les matrices hautement diffusantes telles que l'eau, les hydrocarbures et les matériaux biologiques. L'excitation de la cible secondaire en géométrie cartésienne complète à 90° élimine le bruit de fond. En conséquence, NEX CG II apporte un nouveau niveau de sensibilité analytique à la technologie XRF. Les utilisateurs peuvent mesurer des concentrations ultra-faibles et en oligo-éléments, même dans des types d'échantillons difficiles.

NEX CG II atteint cette puissance analytique supérieure avec un tube à rayons X à anode palladium à fenêtre d'extrémité de 50 kV 50 W, cinq cibles secondaires couvrant la gamme élémentaire complète du sodium à l'uranium (Na - U) et une dérive en silicium à grande surface et à haut débit détecteur (SDD). Ce noyau optique unique, associé au logiciel avancé de paramètres fondamentaux RPF-SQX de Rigaku, fournit les mesures EDXRF les plus sensibles de l'industrie.

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