Fluorescence X

En savoir plus sur XRF et l'utilisation de la technologie Rigaku EDXRF

Qu’est-ce que la spectroscopie EDXRF ?

EDXRF (fluorescence X à dispersion d'énergie) est une technique analytique non destructive qui permet une analyse élémentaire qualitative et quantitative rapide d'une large gamme de matrices, depuis de faibles concentrations en ppm jusqu'à des concentrations en pourcentage en poids élevées. Il s'agit d'un type courant de fluorescence X (XRF) car il offre une solution rapide, fiable et économique pour déterminer la composition élémentaire. EDXRF répond à de nombreux besoins analytiques — depuis le test et le criblage d'huiles et de liquides jusqu'à l'analyse de solides, de métaux, de polymères, de poudres, de pâtes, de revêtements et de films minces — tout en restant adapté aux budgets et en n'occupant qu'un petit espace dans le laboratoire ou l'installation d'essai.

Les instruments EDXRF sont faciles à utiliser et peu coûteux par rapport à d’autres technologies. La préparation des échantillons est minime et comme l'EDXRF est une technique non destructive, les échantillons sont préservés et non détruits. C'est une excellente option pour de nombreuses industries et applications.

  • EDXRF est une technique analytique non destructive qui permet une analyse rapide de plusieurs éléments dans une large gamme de matrices.
  • L'EDXRF peut mesurer le sodium jusqu'à l'uranium, selon l'application.
  • Les systèmes EDXRF sont faciles à utiliser, nécessitent peu ou pas de préparation d'échantillons et offrent un faible coût de possession.
  • Les applications EDXRF vont de l'assurance qualité industrielle et en usine à la recherche et au développement et bien d'autres encore.
  • EDXRF mesure les énergies des rayons X des éléments détectés.

Comment fonctionne l’EDXRF ?

L'EDXRF est une technique spectroscopique qui repose sur l'excitation par rayons X d'un échantillon. Les rayons X font partie du spectre électromagnétique, semblable à la lumière visible et UV, mais ils ont des énergies plus élevées et peuvent traverser les échantillons. Dans EDXRF, les rayons X de la source pénètrent dans un matériau, le faisant émettre une fluorescence de rayons X uniques d'énergies caractéristiques des éléments présents dans l'échantillon.

Spectre EDXRF

Les spectromètres Rigaku EDXRF utilisent des rayons X dans la plage d'énergie de 1 à 65 keV et utilisent l'effet photoélectrique pour déterminer la composition élémentaire. Cet effet se produit lorsque les rayons X incidents irradient les atomes d’un échantillon et que le matériau de l’échantillon excite et émet de l’énergie fluorescente sous forme de rayons X. Lorsque ce phénomène se produit, les électrons sont éjectés des orbitales atomiques internes, provoquant le transfert d’un électron d’une orbitale à énergie supérieure et à combler le vide dans l’orbitale à énergie inférieure. L'énergie excédentaire est émise sous forme de rayons X, et le spectromètre compte et mesure les énergies de ces rayons X émis par l'échantillon. Ces différences d'énergie entre chaque coquille sont toujours les mêmes pour un élément particulier, de sorte que le spectromètre identifie et quantifie les éléments présents dans l'échantillon.

Phénomène EDXRF

Lorsque les électrons tombent de la couche atomique externe vers la couche atomique interne, ces lignes de transition des rayons X produisent des pics dans un spectre. Chaque ligne de transition crée un pic à une énergie spécifique dans le spectre de l'élément.

L'évolution de la technologie EDXRF

Au fil des années, la XRF est devenue de plus en plus l'outil analytique de choix pour mesurer la concentration d'éléments atomiques dans une large gamme de matériaux. En raison des développements évolutifs en cours et des percées révolutionnaires dans les technologies de sources de rayons X, d’optique et de détecteurs, elle est devenue une technique quantitative plus puissante.

Depuis l’introduction des spectromètres commerciaux à fluorescence X à dispersion de longueur d’onde (WDXRF) au milieu des années 1950 jusqu’au développement d’instruments à fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF) au début des années 1970, la disponibilité croissante d’une puissance de calcul abordable était essentielle au désirabilité et acceptation de la technique XRF. Avec la disponibilité et l'utilisation généralisées de l'ordinateur personnel (PC) comme plate-forme standard de l'industrie au milieu des années 1980, les techniques XRF sont devenues plus accessibles et ont offert une alternative à moindre coût de possession aux techniques analytiques de spectroscopie atomique antérieures.

Aujourd'hui, avec les développements plus récents de l'EDXRF, les spectromètres EDXRF apportent un nouveau niveau de sensibilité analytique et de facilité d'utilisation à la technologie XRF.

En savoir plus sur Rigaku EDXRF

De nombreuses industries et organisations utilisent les instruments Rigaku EDXRF pour répondre à leurs besoins analytiques. Les applications vont de l'assurance qualité industrielle et en usine à la recherche et au développement, à l'agriculture, à l'exploitation minière, etc. Applied Rigaku Technologies fournit aux utilisateurs des analyseurs EDXRF avancés et de haute qualité et propose des solutions et un support axés sur le client, soutenus par l'innovation Rigaku et des années d'expérience EDXRF.

Notre portefeuille de produits

Nos systèmes EDXRF de paillasse sont des analyseurs multi-éléments qui fournissent des analyses élémentaires qualitatives et quantitatives rapides et répondent aux besoins de nombreuses applications. Ils fournissent des analyses non destructives du sodium à l'uranium, depuis de faibles niveaux de ppm jusqu'à des concentrations en pourcentage en poids élevées dans presque toutes les matrices. Notre gamme de produits de paillasse comprend le modèle compact NEX QC Series pour les besoins de contrôle qualité de routine, le haute performance Série NEX DE pour les applications d'analyse en vrac et de petites taches, et les avancées NEX CG II Series analyseurs à excitation indirecte pour éléments traces et matrices à base variable, idéaux pour les applications et la recherche complexes.

Pour les besoins de contrôle des processus en temps réel, nous proposons des solutions en ligne et en ligne pour mesurer et surveiller en continu les processus industriels afin que les techniciens puissent contrôler la qualité et les coûts. Les systèmes de contrôle de processus comprennent le NEX XT analyseur de soufre total pour les opérations de pétrole brut, de carburant marin et de mélange, le NEX OL analyseur de processus multi-éléments pour flux liquides, et le NEX LS analyseur de revêtement multi-éléments à balayage pour les applications en bande et en bobine.

Nous sommes experts en technologie EDXRF

Technologies Rigaku appliquées, un division du Rigaku, conçoit, fabrique et distribue les produits Rigaku EDXRF dans le monde entier. Située à Cedar Park, Texas, États-Unis, notre société est spécialisée dans les spectromètres de paillasse et en ligne pour l'analyse élémentaire non destructive des solides, des liquides, des poudres, des revêtements et des films minces. En savoir plus sur Technologies Rigaku appliquées.

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