シリコーンコーティング

Siコート重量分析用ベンチトップEDXRF

迅速で正確なアットライン ソリューションを実現するために、NEX QC シリーズ ベンチトップ EDXRF 分析装置を使用すると、非常に低いシリコーン コーティング重量とシリコーン コーティング中の金属触媒の測定をすべて 1 つの機器で行うことができます。以前のテクノロジーでは限界または不可能だった挑戦的なアプリケーションが、今では現実のものとなっています。

NEX QC シリーズ EDXRF は、テスト クーポンを分析チャンバーに置くだけで、シリコン コーティングの厚さと組成をすばやくチェックするための理想的なツールを QC 技術者に提供します。 QC 向けに特別に設計された NEX QC シリーズ アナライザーは、優れた性能と手頃な価格を兼ね備えています。直感的なタッチスクリーン インターフェイスと内蔵プリンターにより、これらの機器は使いやすく便利です。 NEX QC シリーズ元素分析装置は、在庫コストのバランスを保ち、製品の不合格の可能性を最小限に抑えながら、一貫した製品品質を維持するのに役立ちます。

インラインのリアルタイム Si コート重量プロファイリング

シリコン コーティング プロセスで見られる困難な条件のニーズを満たすように明示的に設計された Rigaku NEX LS — スキャン Si コーティング重量プロセス アナライザー — は、日常的な品質管理を維持するのに役立ちます。第 3 世代の EDXRF 技術を搭載した NEX LS は、Web アプリケーション用のスキャニング プロセス コーティング アナライザーの次の進化を表しています。

継続的な監視と制御のために、NEX LS リニア スキャナーは、プロセスの Si コート重量プロファイリングをリアルタイムで提供します。 NEX LS は、電動フレームに取り付けられた測定ヘッドで構成されており、移動するウェブ上をヘッドが前後に移動します。グラフィカルな横方向および機械方向プロファイルとしてのリアルタイム データ表示。ユーザーがサンプルに関する基本情報を入力すると、高度な NEX LS ソフトウェアがプロセス制御のあらゆる側面をサポートします。より厳しいプロセス制御公差のためのリアルタイム スキャンは、シリコーン コーティング分析用の EDXRF 技術を次のレベルに引き上げます。

リアルタイムのクロス方向と機械方向のプロファイルに加えて、スキャン速度とサブセカンド測定設定を含むユーザー定義のレシピ、高度なロール レポート、および生データのログ記録がトレーサビリティと監査のために含まれています。完全なロール記録には、測定値、日付、時間、長さ、製品名、およびその他の情報が含まれます。また、Web スキャンの平均と個々のゾーンの測定値も含まれます。

Si コーティング アプリケーション向けのアット ラインおよびインライン ソリューション

• シリコーン剥離コーターのトータルソリューション
• 紙、粘土コート紙、および薄膜剥離ライナーのシリコーン分析
• 独自のシリコン オン クレイ コーティング ペーパー アルゴリズム
• コンバーター – プラスチックまたは紙上のシリコン
• 真空成形プラスチック – シリコンコーティングのデネスティング
• 特殊プラスチック