シリコーンコーティングの分析

シリコンコート重量分析用 EDXRF

Web アプリケーション向けの Si コーティング分析

Rigaku EDXRF 元素分析装置は、Web アプリケーションに役立ち、アットライン シリコン コート重量分析またはインライン シリコン コート重量プロファイリングを実行します。

また、一般的なタイプの XRF (蛍光 X 線) である EDXRF は、剥離コーティング、コンバーター、真空成形プラスチック製造業者、およびバリア層、剥離コーティング、またはデネスティング剤としてシリコーン オイルを使用するその他の業界では、長い間よく知られた技術でした。XRF は、シリコーン コーティング業界全体で、シリコーン コーティングの厚さやコーティング重量、または製品の元素組成を決定するために採用されている標準的な技術です。さらに、EDXRF 機器は、Si コーティング重量分析に使いやすく、所有コストも低く抑えられます。

紙やプラスチックの基材にシリコンを不十分に塗布したり過剰に塗布したりすると、ラベルやパッケージなどの製品の剥離特性が大幅に変化することがあります。その結果、製造プロセスの中断や収益性の低下につながる可能性があります。これらの課題を解決するために、Applied Rigaku Technologies は、信頼性の高いシリコンコーティング分析のための高品質の元素分析装置を提供し、プロセスの最適化に必要な制御を提供します。

NEX LSインラインシリコーンコーティング分析装置では、生産を停止することなく継続的な監視が可能であり、 NEX QC Series シリコンコートの重量をオンラインで分析します。

私たちの保証

当社が製造するすべての EDXRF 分光計には 2 年間の保証が付いています。この業界をリードするメーカー保証は、当社が品質に注力し、お客様のプロセスやアプリケーションの稼働時間を最大化することに注力していることを示しています。さらに、Applied Rigaku Technologies は高品質の材料を使用し、熟練した従業員は自分の技術に誇りを持っています。保証に関連する欠陥が発生した場合、当社は迅速に対応します。さらに、保証プランは通常 1 年を超えることはありません。この保証範囲は、Rigaku EDXRF 製品の全体的な優秀さの証です。

ベンチトップ Si コート重量分析のための EDXRF

NEX QC+ 紙にSi

NEX QC Series ベンチトップ アナライザーは、迅速なアットライン シリコン コーティング重量分析のために、非常に低いシリコン コーティング重量とシリコン コーティング内の金属触媒の測定を可能にします。以前の技術では限界または不可能であった困難なアプリケーションが、今では現実のものとなっています。

さらに、NEX QC Series 分析装置は、QC 技術者にとって、分析チャンバーにテスト クーポンを置くだけで、シリコン コーティングの厚さと組成をすばやくチェックできる理想的なツールです。日常的な品質管理用に特別に設計された NEX QC Series は、優れたパフォーマンスと手頃な価格を兼ね備えています。さらに、直感的なタッチスクリーン インターフェイスと内蔵プリンターにより、これらの機器は使いやすく便利です。高スループット分析には、自動サンプル チェンジャー オプションも利用できます。

NEX QC Series アナライザーは、在庫コストのバランスを保ち、製品の不良を最小限に抑えながら、一貫した製品品質を維持するのに役立ちます。

インラインのリアルタイム Si コート重量プロファイリング

インライン プロセス制御では、NEX LS リニア スキャナーが、プロセスの横方向および機械方向の Si コート重量プロファイリングをリアルタイムで提供します。問題をすばやく特定し、ロール全体の製造中に品質管理の決定を即座に行うことができます。

NEX LS ソフトウェアは使いやすく、継続的な監視と制御を提供します。さらに、直感的なユーザー インターフェイスにより、スキャン速度や 1 秒未満の測定設定、高度なロール レポート、トレーサビリティと監査のための生データ ロギングなどのレシピを簡単に定義できます。レポートをカスタマイズし、PDF または CSV としてエクスポートし、業界標準の通信プロトコルを使用してコピーを USB またはネットワークに保存できます。NEX LS はリアルタイムの Si コーティング分析を提供し、ロールツーロール (R2R) 製造に欠かせないツールです。

分析ヘッドが移動するウェブ上を前後に移動するにつれて、測定値がコンソール ボックスと産業用タッチスクリーン コンピュータに送信されます。リアルタイム データは、グラフィカルな横方向および機械方向のプロファイルとして表示されます。フル スキャン モードまたはユーザー定義の固定分析位置を選択できます。

NEX LSフルスキャン分析
NEX LS 固定分析ポジション

Si コーティング アプリケーション向けのアット ラインおよびインライン ソリューション

NEX LS – ウェブおよびコイルアプリケーション用のプロセスコーティング分析装置

  • シリコーン剥離コーターのトータルソリューション
  • 紙、粘土コート紙、および薄膜剥離ライナーのシリコーン分析
  • 独自のシリコン オン クレイ コーティング ペーパー アルゴリズム
  • コンバーター – プラスチックまたは紙上のシリコン
  • 真空成形プラスチック – シリコンコーティングのデネスティング
  • 特殊プラスチック
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