地質學
用於地質應用的 EDXRF / XRF 元素分析
地質樣品的原子元素測定
在研究地球的行星過程和構成（地質學）時，地質學家經常分析岩石和礦物樣品的成分。通過使用具有成本效益的高性能能量色散 X 射線熒光（EDXRF 或 XRF）儀器，可以對鈉 (Na) 到鈾 (U) 進行快速元素分析，而無需破壞、消化或改變樣品。消除對濕化學實驗室的需求使 EDXRF 技術對地質界特別感興趣。
高級定性和定量分析
NEX CG II Series 和 NEX DE VS 台式光譜儀由 Rigaku 的 RPF-SQX 基本參數 (FP) 軟件提供支持，具有 Rigaku Profile Fitting (RPF) 技術和散射 FP。這款強大的軟件可以對幾乎所有不帶標準的樣品類型進行半定量分析 - 以及使用標准進行嚴格的定量分析。 Rigaku 的散射 FP 方法自動估算不可測量的低原子序數元素（氫到氟）的濃度並提供適當的校正。
對於許多應用而言，校準標準可能很昂貴且難以獲得。使用 RPF-SQX，所需標準的數量大大減少，顯著降低了擁有成本並減少了運行常規分析的工作量要求。
經濟實惠的地質材料分析
它們可對各種樣品類型中的鈉 (Na) 和鈾 (U) 進行快速的定性和定量元素分析。直觀的觸摸屏界面和內置打印機使這些儀器易於使用和方便。它們可在任一 NEX 質量控制 或者 NEX QC+ 模型適用於要求更高的應用程序或分析時間至關重要的情況。
許多學科和研究領域的分析解決方案
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