NEX CG II系列

用於快速定性和定量元素分析的下一代高級笛卡爾幾何 EDXRF

主要優勢和特點

NEX CG II Series 是一款功能強大的第二代能量色散 X 射線螢光 (EDXRF) 光譜儀,可對各種樣品類型(從油和液體到固體、金屬、聚合物、粉末、漿料、塗料和薄膜。

  • 鈉 (Na) 到鈾 (U) 的無損元素分析
  • 固體、液體、粉末、塗層和薄膜的快速元素分析
  • 用於極低檢測限的間接激發
  • 高功率 50 kV 50 W (NEX CG II) 或 65 kV 100 W (NEX CG II+) X 射線管
  • 大面積高通量矽漂移探測器(SDD)
  • 在空氣、氦氣或真空中進行分析
  • 功能強大且易於使用的 QuantEZ® 具有多語言用戶界面的軟件
  • 具有散射 FP 的高級 RPF-SQX 基本參數軟件
  • 用於峰值反捲積的 Rigaku Profile Fitting (RPF) 高級算法
  • 各種自動進樣器,最多可容納 52 mm 樣品
  • 2 年保修支持的低擁有成本
Rigaku NEX CG II

視頻

補充說明

工業質量控製到高級研究應用

Rigaku NEX CG II Series 是一種多元素、多用途分析儀,非常適合測量超低和微量元素濃度直至高重量百分比等級。這些分析儀服務於許多行業,特別適合完全未知的元素含量的半定量測定。應用範圍從工業和廠內品質保證到研究和開發。它們對於非技術操作員來說很容易使用,但功能足夠強大,可供商業實驗室和研發設施中的專家使用。使用者可以實現最低的檢測極限並輕鬆管理複雜的應用程式。 NEX CG II Series 非常適合測試農業土壤和植物材料、分析成品動物飼料、測量廢油、環境監測、藥品、化妝品等。

透過 NEX CG II Series 實現卓越的分析能力

NEX CG II Series 透過 50 kV 50 W (NEX CG II) 或 65 kV 100 W (NEX CG II+) 端窗鈀陽極 X 射線管實現卓越的分析能力,五個輔助目標涵蓋從鈉到鈾 (Na – U) 的完整元素範圍,以及高通量大面積矽漂移探測器。其獨特的光學核心與 Rigaku 先進的 RPF-SQX 基本參數軟體相結合,可提供業界最靈敏的 EDXRF 測量。

此外,使用者還可以使用各種自動進樣器選項獲得高通量測量,可容納 32、40 和 52 毫米樣品。 NEX CG II Series分析儀不需要冷卻水或液態氮,外殼尺寸為463毫米(寬)×492毫米(深)×382毫米(高)。這種較小的佔地面積使它們成為對任何商業實驗室或研發設施都有吸引力的儀器。可用型號包括 NEX CG II(可實現跡線峰值的出色光譜分辨率)或 NEX CG II+(適用於需要更高功率系統的更苛刻應用)。

NEX CG II+ 採用 65 kV 100 W X 射線管,可對製藥材料、催化劑、化妝品進行微量元素分析,監測空氣過濾器氣溶膠中的有毒金屬,以及分析痕量重金屬和稀土元素 (REE),以及其他需要高靈敏度的應用。

用於痕量級靈敏度的笛卡爾幾何和極化

與傳統的 EDXRF 光譜儀不同,NEX CG II Series 是使用輔助目標而不是管過濾器的間接激發系統。來自二級目標的單色和偏振激發極大地提高了高散射基質(如水、碳氫化合物和生物材料)中元素的檢測極限。全 90° 笛卡爾幾何形狀的輔助目標激勵消除了背景噪音。因此,NEX CG II Series 將 XRF 技術的分析靈敏度提升到了新的水平。即使在具有挑戰性的樣品類型中,使用者也可以測量超低元素和微量元素濃度。

使用先進的定性和定量分析軟件輕鬆控制儀器

NEX CG II Series 分析儀易於與 QuantEZ 配合使用,這是一款功能強大的基於 PC 的軟體,透過簡單的選單導航和可自訂的 EZ Analysis 介面提供直覺的儀器控制。使用者可以透過簡化的日常操作來最大限度地提高時間和生產力,並使用簡單的流程列精靈來建立自己的方法。此外,還提供各種軟體選項來滿足使用者需求,包括支援 21 CFR 第 11 部分合規性的 SureDI。

RPF-SQX 減少了對標準的需求

高級定性和定量分析由 Rigaku 的 RPF-SQX 基本參數 (FP) 軟件提供支持,該軟件採用 Rigaku Profile Fitting (RPF) 技術和散射 FP。這款強大的集成軟件允許對幾乎所有不帶標準的樣品類型進行半定量分析 - 以及使用標准進行嚴格的定量分析。 Rigaku 的散射 FP 方法自動估算不可測量的低原子序數元素(H 到 F)的濃度並提供適當的校正。

對於許多應用而言,校準標準可能很昂貴且難以獲得。使用 RPF-SQX,所需標準的數量大大減少,顯著降低了擁有成本並減少了運行常規分析的工作量要求。

獨特的 3D 笛卡爾幾何光學內核顯著提高峰背景比

NEX CG II Series 建立在 NEX CG 的基礎上,即使用笛卡爾幾何和輔助目標來實現痕量級靈敏度。 NEX CG II Series 分析儀採用獨特且改良的緊密耦合笛卡爾幾何光學內核,可顯著提高信噪比並提供增強的元素分析。

NEX CG II Series 光譜儀是使用輔助目標而不是管式濾波器的間接激發系統。間接激勵消除了背景噪聲,從而實現最低的檢測限。這些結果是透過採用 50 kV 50 W (NEX CG II) 或 65 kV 100 W (NEX CG II+) 選項的端窗鈀陽極 X 射線管、來自 5 個輔助目標的單色或偏振激發以及高高性能大面積矽漂移探測器。

使用者可以使用完整的 90° 笛卡爾幾何和間接激勵來獲取幾乎沒有背景雜訊的光譜。來自 X 射線管的多色 X 射線照射輔助目標。次要目標被激發並發出螢光,向樣品發射單色 X 射線。然後檢測器記錄樣品的光譜。

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