通過 EDXRF 掃描多元素工藝塗層分析儀

主要優勢和特點

NEX LS 專為滿足塗層和加工流程中挑戰性條件的需求而設計,有助於維持捲材和捲材應用的常規品質控制。 NEX LS 線性掃描器可為您的製程提供即時塗層重量分析。

  • 即時製程塗層控制
  • 橫向和縱向塗層重量分析
  • 完整掃描或使用者定義的位置
  • 測量元素鋁 (AI) 到鈾 (U)
  • 強大的理學 NEX 系列光學內核
  • 工業觸摸屏用戶界面
  • 輕鬆自動校準和日常操作
  • 最少的日常維護和 2 年保修
NEX LS 分析頭

視頻

補充說明

線上 EDXRF 提供卓越的分析效能

為了提供卓越的分析性能和可靠性,NEX LS 採用經過驗證的 EDXRF 技術。其測量頭是利用成熟的 NEX 系列桌上型儀器的技術開發的。 能譜儀 是一種非破壞性技術,可為使用者提供有關塗層特性或產品成分的寶貴資訊。

測量頭安裝在剛性樑上,配備線性移動機構,確保恆定的頭部到表面距離。如果需要,可以直接測量塗層的元素組成。相反,塗層重量(或塗層厚度)可以直接測量(其中元素的計數率與厚度成正比),也可以透過測量某些基底元素的衰減來間接測量(其中計數率與厚度負相關)。

NEX LS 提供即時製程控制

當分析頭在移動的網路或線圈上來回掃描時,掃描器將測量結果傳送到控制台盒和工業觸控螢幕電腦。使用者可以選擇全掃描模式或固定分析位置。即時數據顯示為圖形橫向和縱向輪廓。

NEX LS全掃描分析
NEX LS 固定分析位置

NEX LS 軟體易於使用,並提供清晰的流程視覺化表示,幫助使用者立即做出品質控制決策。透過直覺的使用者介面和流程列方法建構器,技術人員可以輕鬆定義其流程獨有的應用程式。

NEX LS – 適用於卷材和卷材應用的製程塗層分析儀

先進的滾動報告功能可產生品質記錄或稽核追蹤。記錄包括縱向、橫向、全通道平均圖等。使用者可以自訂報告,將其匯出為 PDF 或 CSV,並使用業界標準通訊協定將副本儲存到 USB 或網路。

從開始到結束即時解決挑戰

控制塗層厚度或成分對於滿足脫模、金屬表面處理和汽車行業的最終使用規格至關重要。如果整個過程中塗層或成分不符合規格,則可能導致產品被拒絕或失敗。有機矽塗佈機可實現目標沉積,以確保脫模性能或阻隔性不受影響。如果使用的有機矽太少或太多,可能會改變產品的特性,導致產品報廢並降低獲利能力。隨著對燃料電池和電池供電的電動車的需求不斷增加,對基板或負載進行分析在製造中至關重要。 NEX LS 在整個過程中提供即時結果,是新產品開發的寶貴工具。常見應用包括:

  • 有機矽離型塗層機
  • 轉換器——塑料或紙上的矽膠
  • 真空成型塑膠-解除有機矽塗層的嵌套
  • 特種薄膜 – 防潮與氣密層
  • 轉化塗料
  • 燃料電池負載
  • 金屬化塑料
  • 金屬卷材上的面漆
  • 織物上的阻燃劑
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