能量色散 X 射線熒光 (EDXRF)

為了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF 測量頭組件源自成熟的 Rigaku NEX 系列高分辨率台式儀器。憑藉其成熟的技術，Rigaku NEX LS 可以對從鋁 (Al) 到鈾 (U) 的元素進行快速、非破壞性的多元素分析——塗層重量、塗層厚度和/或成分。

塗層厚度和成分

Rigaku NEX LS 專門設計用於服務於捲筒紙和卷材應用，能夠執行多元素組合、塗層重量或塗層厚度。測量頭安裝在剛性樑上，並配備了一個位於滾輪上方的線性橫動機構，因此頭部到表面的距離是恆定的。在需要時，直接測量塗層的元素組成。相比之下，塗層重量（或塗層厚度）可以直接測量（其中元素的計數率與厚度成正比）或通過測量某些基材元素的衰減（其中計數率與厚度負相關）間接測量。

有機矽離型塗料

台式 EDXRF 光譜儀長期以來一直是脫模塗層、轉換器、真空成型塑料製造商和其他使用矽油作為阻隔層、脫模塗層或脫模劑的行業所熟悉的技術。實時掃描，用於更嚴格的過程控制公差，將用於有機矽塗層分析的 EDXRF 技術提升到一個新的水平。有機矽塗料應用於塑料和紙質基材，以改變產品（如標籤）或包裝的釋放特性。如果使用的有機矽太少，或者如果捲筒紙的某些區域缺少有機矽塗層，則粘合劑剝離性能將在剝離應用中受到不利影響，或者真空成型塑料的去嵌套特性將受到影響，從而導致產品拒收或中斷製造和其他下游過程。如果使用過多的有機矽，則製造卷的成本會增加，從而降低盈利能力，並且在某些情況下會影響最終產品的接受度和性能。