有機矽塗料

用於矽塗層重量分析的台式 EDXRF

對於快速和準確的在線解決方案，NEX QC 系列台式 EDXRF 分析儀可以通過一台儀器測量極低的有機矽塗層重量和有機矽塗層中的金屬催化劑。具有挑戰性的應用程序在早期技術中要么是微不足道的，要么是不可能的，現在已成為現實。

NEX QC 系列 EDXRF 只需將試片放入分析室，即可為 QC 技術人員提供快速檢查有機矽塗層厚度和成分的理想工具。 NEX QC 系列分析儀專為 QC 設計，結合了卓越的性能和經濟性。直觀的觸摸屏界面和內置打印機使這些儀器易於使用和方便。 NEX QC 系列元素分析儀有助於保持一致的產品質量，同時保持庫存成本平衡並最大限度地減少產品拒收的機會。

在線實時矽塗層重量分析

Rigaku NEX LS（一種掃描矽塗層重量工藝分析儀）專為滿足有機矽塗層工藝中具有挑戰性的條件而設計，有助於維持日常質量控制。 NEX LS 採用第三代 EDXRF 技術，代表了用於網絡應用的掃描工藝塗層分析儀的下一代發展。

對於連續監測和控制，NEX LS 線性掃描儀可為您的過程提供實時的矽塗層重量分析。 NEX LS 由一個安裝在電動框架上的測量頭組成，該框架通過移動的捲筒來回攜帶測量頭。實時數據顯示為圖形橫向和縱向輪廓。用戶輸入樣品的基本信息，先進的 NEX LS 軟件支持過程控制的各個方面。實時掃描，用於更嚴格的過程控制公差，將用於有機矽塗層分析的 EDXRF 技術提升到一個新的水平。

除了實時橫向和機器方向配置文件外，還包括用戶定義的配方，包括掃描速度和亞秒級測量設置、提前滾動報告和原始數據記錄，用於可追溯性和審計。完整的滾動記錄包括測量值、日期、時間、長度、產品名稱以及其他信息。還包括網絡掃描平均值和單個區域測量值。

用於矽塗層應用的在線和在線解決方案

• 有機矽離型塗層的整體解決方案
• 紙、粘土塗層紙和薄膜離型紙上的有機矽分析
• 粘土塗層紙上的專有有機矽算法
• 轉換器——塑料或紙上的矽膠
• 真空成型塑料 – 去嵌套有機矽塗層
• 特種塑料