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有機矽塗料分析

用於有機矽塗層重量分析的 EDXRF

用於 Web 應用的 Si 塗層分析

線上解決方案 | 線上解決方案

Rigaku EDXRF 元素分析儀服務於網路應用，執行線上有機矽塗層重量分析或線上有機矽塗層重量分析。

此外，EDXRF 是XRF（X 射線螢光）的一種常見類型，長期以來一直是脫模塗層、轉換器、真空成型塑膠製造商以及其他使用矽油作為阻擋層、脫模塗層或脫巢劑的業界所熟悉的技術。 XRF 是整個矽塗層產業採用的標準技術，用於確定有機矽塗層厚度或塗層重量或產品的元素組成。此外，EDXRF 儀器易於用於矽塗層重量分析，且擁有低成本。

紙張和塑膠基材上的有機矽應用不足或過多會顯著改變產品（例如標籤或包裝）的釋放特性。因此，這可能會導致製造流程中斷並降低獲利能力。為了幫助應對這些挑戰，應用理學技術公司提供了高品質的元素分析儀，用於可靠的有機矽塗層分析——提供優化製程所需的控制。

NEX LS，一種在線有機矽塗層分析儀，可以在不停止生產的情況下進行連續監測，並且 NEX QC Series 提供線上有機矽塗層重量分析。

紙張和塑膠上的有機矽塗層分析 - 應用說明

應用筆記

NEX QC – 紙和塑料上的有機矽塗層

NEX QC+ – 紙和塑料上的有機矽塗層

NEX QC+ – 塑料上的超低有機矽

我們的保證

我們為我們生產的所有 EDXRF 光譜儀提供 2 年保固。這個行業領先的製造商的保固證明了我們對品質的承諾以及致力於最大限度地延長您的流程或應用程式的正常運行時間。此外，應用理學技術公司使用優質材料，我們熟練的員工對他們的工藝感到自豪。如果發生與保固相關的缺陷，我們會迅速做出回應。此外，保固計畫通常不會超過一年，這使得保固範圍證明了 Rigaku EDXRF 產品的整體卓越性。

桌上型 用於矽塗層重量分析的 EDXRF

NEX QC+ 紙上矽

對於快速線上有機矽塗層重量分析，NEX QC Series 桌上型分析儀能夠測量極低的有機矽塗層重量和有機矽塗層中的金屬催化劑。對於早期技術來說，那些具有挑戰性的應用要么是邊緣性的，要么是不可能的，現在已經成為現實。

此外，NEX QC Series 分析儀為 QC 技術人員提供了一種理想的工具，只需將測試附片放入分析室即可快速檢查有機矽塗層的厚度和成分。 NEX QC Series 專為日常品質控製而設計，將卓越的性能與經濟實惠相結合。此外，直覺的觸控螢幕介面和內建印表機使這些儀器易於使用和方便。自動進樣器選項也可用於高通量分析。

NEX QC Series 分析儀可協助您保持一致的產品質量，同時保持庫存成本平衡並最大限度地減少產品廢品。

在線實時矽塗層重量分析

對於線上製程控制，NEX LS 線性掃描器可提供製程的即時橫向和縱向矽塗層重量分析。您可以快速識別問題，並在整個卷材的生產過程中立即做出品質控制決策。

NEX LS 軟體易於使用，並提供連續監控和控制。此外，直覺的使用者介面可讓您輕鬆定義配方，包括掃描速度和亞秒測量設定、進階滾動報告以及用於可追溯性和審核的原始資料記錄。您可以自訂報告，將其匯出為 PDF 或 CSV，並使用業界標準通訊協定將副本儲存到 USB 或網路。 NEX LS 提供即時矽塗層分析，是卷對卷 (R2R) 製造的寶貴工具。

當分析頭在移動的網路上來回掃描時，測量結果會傳送到控制台和工業觸控螢幕電腦。即時數據顯示為圖形橫向和縱向輪廓。您可以選擇全掃描模式或使用者定義的固定分析位置。

NEX LS全掃描分析
NEX LS 固定分析位置

用於矽塗層應用的在線和在線解決方案

NEX LS – 適用於卷材和卷材應用的製程塗層分析儀

  • 有機矽離型塗層的整體解決方案
  • 紙、粘土塗層紙和薄膜離型紙上的有機矽分析
  • 粘土塗層紙上的專有有機矽算法
  • 轉換器——塑料或紙上的矽膠
  • 真空成型塑料 – 去嵌套有機矽塗層
  • 特種塑料

紙張和紙張生產資訊和資源

理學 EDXRF 技術
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