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スモールスポット分析を備えた高性能ベンチトップ EDXRF アナライザー

主な利点と機能

ビデオ | 概要とアプリケーションノート

Rigaku NEX DE は、優れた高性能の小型スポット ベンチトップ エネルギー分散型蛍光 X 線 (EDXRF) 元素分析装置として、学習しやすい Windows® ベースの QuantEZ ソフトウェアを使用して幅広い元素をカバーします。固体や合金から粉末、液体、スラリーまで、ほぼすべてのマトリックス中のナトリウム (Na) からウラン (U) までを非破壊で分析します。

  • ナトリウムからウランまでを非破壊で分析
  • 強力な QuantEZ ソフトウェア
  • 高解像度カメラ
  • 1、3、または 10 mm の分析スポット サイズ
  • 固体、液体、合金、粉末、フィルム
  • 幅広い元素をカバーする 60 kV X 線管
  • 優れたデータのための SDD 検出器
  • 6 つの自動チューブ フィルター
  • 比類のないパフォーマンスと価格の比率
  • オプションの RPF-SQX 基本パラメータ

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その他の注意事項

マルチポジション、スモールスポットおよびバルク元素分析

Rigaku NEX DE VS 元素分析装置 (EDXRF) は、単一位置の大きなサンプル ステージに加えて、複数位置のバルク分析を提供し、システムの自動制御によって簡単に変更できる 1 mm、3 mm、および 10 mm の 3 つの分析スポット サイズ オプションを備えています。コリメータ。高解像度カメラと LED 照明システムにより、Windows ソフトウェア インターフェイスを介してサンプルの画像を記録できます。

フィールド、プラント、またはラボでの XRF 元素分析

NEX DE VS の優れた分析力、柔軟性、および使いやすさは、プラント フロアであろうとリモート フィールド環境であろうと、重工業用途向けに特別に設計および設計されており、ますます拡大する範囲に対する幅広い魅力を高めています。探査、研究、バルク RoHS 検査、教育、産業および生産監視アプリケーションを含むアプリケーション。ニーズが基本的な品質管理 (QC) であろうと、分析品質管理 (AQC)、品質保証 (QA)、またはシックス シグマのような統計的プロセス制御などのより高度なバリエーションであろうと、NEX DE VS は信頼できる高性能の選択肢です。 XRF によるルーチンの元素分析用。

60 kV X 線管と SDD 検出器を備えた XRF

60 kV X 線管とペルチェ冷却シリコン ドリフト検出器 (SDD) は、優れた元素ピーク分解能により、卓越した短期再現性と長期再現性を実現します。この高電圧機能 (60 kV) は、高放出電流と複数の自動化された X 線管フィルターと共に、幅広い XRF アプリケーションの汎用性と低い検出限界 (LOD) を提供します。

XRF オプション: オートサンプラー、ヘリウム、およびスタンダードレス FP

オプションには、基本パラメータ、さまざまな自動サンプル チェンジャー、サンプル スピナー、および軽元素感度を強化するためのヘリウム パージが含まれます。

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