小スポット分析を備えた高性能ベンチトップ EDXRF
主な利点と機能
NEX DE VS は高性能の直接励起エネルギー分散型蛍光 X 線 (EDXRF) 分光計で、小さなスポット分析機能を備えたナトリウム (Na) からウラン (U) までの迅速かつ非破壊の定性および定量元素分析を提供します。低 ppm レベルから高重量パーセント濃度までの測定に最適です。 NEX DE VS は高解像度カメラと自動コリメータを備えており、1 mm、3 mm、10 mm のスポット サイズを分析するための正確なサンプルの位置決めが可能です。
- ナトリウムからウランへの非破壊分析
- 強力で使いやすい QuantEZ ソフトウェア
- ポイント分析インターフェイスを備えた統合型高解像度カメラ
- 1 mm、3 mm、10 mm のスポット サイズを分析
- 固体、液体、合金、粉末、フィルム
- 幅広い元素をカバーする 60 kV 12 W X 線管
- 優れたデータを実現する高性能 SDD
- 2 年間保証による低所有コスト
- オプションの RPF-SQX 基本パラメータ ソフトウェア
ビデオ
その他の注意事項
マルチポジション、スモールスポットおよびバルク元素分析
バルク材料から完成品の小さなスポットまでを分析します。高解像度カメラと自動コリメータにより、1 mm、3 mm、10 mm のスポット サイズを分析するサンプルの正確な位置決めが可能になります。バックライト付きカメラ システムにより、サンプルの画像を記録することもできます。さらに、大型サンプル チャンバーは、直径 30 cm、高さ 10 cm までのサンプルに加えて、さまざまなシングル ポジションおよびオートサンプラー オプションにも対応します。 NEX DE VS は、小型部品のコーティングの測定、電子廃棄物対策のための小さなサンプルのスクリーニング、または未知の組成の異物の特定の調査に最適なシステムです。
現場、工場、研究室での高性能元素分析
工場の現場でも QC ラボでも、NEX DE VS は比類のない大量および小スポット分析パフォーマンスを提供します。優れた分析力、柔軟性、使いやすさにより、探査、研究、バルク RoHS 検査、基本的な品質管理 (QC)、または分析分析などのより高度なバリエーションを含む、拡大し続けるアプリケーションの幅広い魅力がさらに高まります。品質管理 (AQC)、品質保証 (QA)、またはシックス シグマのような統計的プロセス管理。
60 kV X線管とSDD
60 kV X 線管とペルチェ冷却シリコン ドリフト検出器 (SDD) は、優れた要素ピーク分解能により、優れた短期再現性と長期再現性を実現します。この高電圧機能 (60 kV)、高放出電流、および複数の自動 X 線管フィルターにより、幅広い XRF アプリケーションの多用途性と低い検出限界 (LOD) が実現します。
オプションのオートサンプラー、ヘリウム、スタンダードレス FP
オプションには、基本パラメータ、さまざまな自動サンプル交換装置、サンプル スピナー、ヘリウム パージが含まれます。
お問い合わせ NEX DE VS の詳細については、こちらをご覧ください。