具有小光斑分析功能的高效能桌上型 EDXRF
主要優勢和特點
NEX DE VS 是一款高性能直接激發能量色散 X 射線螢光 (EDXRF) 光譜儀，可對鈉 (Na) 到鈾 (U) 進行快速、無損定性和定量元素分析，並具有小斑點分析功能。它非常適合測量低 ppm 水平直至高重量百分比濃度。 NEX DE VS 配備高解析度攝影機和自動準直器，可實現精確的樣品定位以分析 1 毫米、3 毫米和 10 毫米的光點尺寸。
- 鈉到鈾的無損分析
- 功能強大、易於使用的 QuantEZ 軟體
- 具有點分析介面的整合式高解析度相機
- 分析 1 mm、3 mm 和 10 mm 光斑尺寸
- 固體、液體、合金、粉末和薄膜
- 60 kV 12 W X 射線管，元素覆蓋範圍廣
- 高效能 SDD 提供卓越數據
- 2 年保修支持的低擁有成本
- 可選RPF-SQX基本參數軟體
視頻
補充說明
多位置、小點和批量元素分析
分析從散裝材料到成品上的小斑點。高解析度相機和自動準直器可以精確定位樣品以分析 1 毫米、3 毫米和 10 毫米的光斑尺寸。背光攝影系統還可以記錄樣品的影像。此外，大型樣品室可容納直徑達 30 公分、高 10 公分的樣品，以及各種單位和自動進樣器選項。 NEX DE VS 是一款出色的系統，可用於測量較小零件上的塗層、篩選電子廢棄物倡議的小樣本或調查未知成分異物的識別。
在現場、工廠或實驗室進行高性能元素分析
無論是在工廠車間還是在 QC 實驗室，NEX DE VS 都能提供無與倫比的批量和小點分析性能。卓越的分析能力、靈活性和易用性增加了其對不斷擴大的應用範圍的廣泛吸引力，包括勘探、研究、批量 RoHS 檢測、基本品質控制 (QC) 或其更複雜的變體，例如分析品質控制(AQC)、品質保證(QA) 或統計製程管制（如六西格瑪）。
60 kV X 射線管和 SDD
60 kV X 射線管和珀爾帖冷卻矽漂移探測器 (SDD) 提供卓越的短期重複性和長期再現性以及出色的元素峰值解析度。這種高電壓能力 (60 kV)、高發射電流和多個自動 X 射線管濾波器提供了廣泛的 XRF 應用多功能性和低檢測極限 (LOD)。
可選配自動進樣器、氦氣和無標樣 FP
選項包括基本參數、各種自動進樣器、樣品旋轉器和氦氣吹掃。
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