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具有小光斑分析功能的高性能台式 EDXRF 分析儀

主要優勢和特點

視頻 | 概述和應用說明

作為一款優質、高性能的小光斑台式能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 元素分析儀,Rigaku NEX DE 通過易於學習的基於 Windows® 的 QuantEZ 軟件提供廣泛的元素覆蓋範圍。對幾乎任何基質中的鈉 (Na) 到鈾 (U) 進行無損分析,從固體和合金到粉末、液體和漿液。

  • 非破壞性分析鈉到鈾
  • 強大的 QuantEZ 軟件
  • 高分辨率相機
  • 1、3 或 10 mm 分析光斑尺寸
  • 固體、液體、合金、粉末和薄膜
  • 60 kV X 射線管,元素覆蓋範圍廣
  • SDD 檢測器可提供優質數據
  • 六個自動管式過濾器
  • 無與倫比的性價比
  • 可選的 RPF-SQX 基本參數

視頻

補充說明

多位置、小點和批量元素分析

Rigaku NEX DE VS 元素分析儀 (EDXRF) 除了大型單位置樣品台外,還提供多位置批量分析,具有三種分析光斑尺寸選項 - 1 mm、3 mm 和 10 mm - 可以通過系統的自動更改輕鬆更改准直器。高分辨率相機和 LED 照明系統允許通過 Windows 軟件界面記錄樣品的圖像。

現場、工廠或實驗室中的 XRF 元素分析

專為重工業用途而設計和製造,無論是在工廠車間還是在偏遠的現場環境中,NEX DE VS 卓越的分析能力、靈活性和易用性增加了其對不斷擴大的範圍的廣泛吸引力應用,包括勘探、研究、批量 RoHS 檢測和教育,以及工業和生產監控應用。無論需要基本質量控制 (QC) 還是其更複雜的變體——例如分析質量控制 (AQC)、質量保證 (QA) 或像六西格碼這樣的統計過程控制——NEX DE VS 都是可靠的高性能選擇通過 XRF 進行常規元素分析。

帶有 60 kV X 射線管和 SDD 檢測器的 XRF

60 kV X 射線管和 Peltier 冷卻矽漂移檢測器 (SDD) 提供出色的短期重複性和長期重現性以及出色的元素峰值分辨率。這種高電壓能力 (60 kV) 以及高發射電流和多個自動 X 射線管過濾器提供了廣泛的 XRF 應用多功能性和低檢測限 (LOD)。

XRF 選項:自動進樣器、氦氣和無標樣 FP

選項包括基本參數、各種自動進樣器、樣品旋轉器和氦氣吹掃,以提高輕元素靈敏度。

Windows 是微軟公司在美國和其他國家的註冊商標。

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