多位置、小點和批量元素分析

Rigaku NEX DE VS 元素分析儀 (EDXRF) 除了大型單位置樣品台外，還提供多位置批量分析，具有三種分析光斑尺寸選項 - 1 mm、3 mm 和 10 mm - 可以通過系統的自動更改輕鬆更改准直器。高分辨率相機和 LED 照明系統允許通過 Windows 軟件界面記錄樣品的圖像。

現場、工廠或實驗室中的 XRF 元素分析

專為重工業用途而設計和製造，無論是在工廠車間還是在偏遠的現場環境中，NEX DE VS 卓越的分析能力、靈活性和易用性增加了其對不斷擴大的範圍的廣泛吸引力應用，包括勘探、研究、批量 RoHS 檢測和教育，以及工業和生產監控應用。無論需要基本質量控制 (QC) 還是其更複雜的變體——例如分析質量控制 (AQC)、質量保證 (QA) 或像六西格碼這樣的統計過程控制——NEX DE VS 都是可靠的高性能選擇通過 XRF 進行常規元素分析。

帶有 60 kV X 射線管和 SDD 檢測器的 XRF

60 kV X 射線管和 Peltier 冷卻矽漂移檢測器 (SDD) 提供出色的短期重複性和長期重現性以及出色的元素峰值分辨率。這種高電壓能力 (60 kV) 以及高發射電流和多個自動 X 射線管過濾器提供了廣泛的 XRF 應用多功能性和低檢測限 (LOD)。

XRF 選項：自動進樣器、氦氣和無標樣 FP

選項包括基本參數、各種自動進樣器、樣品旋轉器和氦氣吹掃，以提高輕元素靈敏度。

Windows 是微軟公司在美國和其他國家的註冊商標。