EDXRF de mesa de alto rendimiento con análisis de puntos pequeños
Ventajas y características clave
NEX DE VS es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de energía de excitación directa (EDXRF) de alto rendimiento que proporciona un análisis elemental cualitativo y cuantitativo rápido y no destructivo de sodio (Na) a uranio (U) con capacidades de análisis de puntos pequeños. Es ideal para medir niveles bajos de ppm hasta concentraciones altas porcentuales en peso. NEX DE VS cuenta con una cámara de alta resolución y colimadores automatizados para permitir un posicionamiento preciso de la muestra para analizar tamaños de punto de 1 mm, 3 mm y 10 mm.
- Análisis no destructivo de sodio a uranio.
- Software QuantEZ potente y fácil de usar
- Cámara integrada de alta resolución con interfaz de análisis de puntos
- Analice tamaños de punto de 1 mm, 3 mm y 10 mm
- Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas
- Tubo de rayos X de 60 kV y 12 W para una amplia cobertura elemental
- SDD de alto rendimiento para datos superiores
- Bajo costo de propiedad respaldado por una garantía de 2 años
- Software opcional de parámetros fundamentales RPF-SQX
Video
Notas adicionales
Análisis elemental a granel, de puntos pequeños y de posiciones múltiples
Analice desde materiales a granel hasta pequeños puntos en productos terminados. La cámara de alta resolución y los colimadores automatizados permiten el posicionamiento exacto de muestras para analizar tamaños de puntos de 1 mm, 3 mm y 10 mm. El sistema de cámara retroiluminada también permite grabar la imagen de la muestra. Además, la gran cámara de muestras admite muestras de hasta 30 cm de diámetro y 10 cm de alto, así como varias opciones de muestreador automático y de posición única. NEX DE VS es un sistema excelente para medir recubrimientos en piezas más pequeñas, examinar muestras pequeñas para iniciativas de desechos electrónicos o investigar la identificación de materias extrañas de composición desconocida.
Análisis elemental de alto rendimiento en el campo, la planta o el laboratorio
Ya sea en la planta o en un laboratorio de control de calidad, el NEX DE VS proporciona un rendimiento incomparable en análisis en masa y en puntos pequeños. El poder analítico superior, la flexibilidad y la facilidad de uso se suman a su amplio atractivo para una gama cada vez mayor de aplicaciones, incluida la exploración, la investigación, la inspección RoHS a granel, el control de calidad (QC) básico o sus variantes más sofisticadas, como las analíticas. control de calidad (AQC), aseguramiento de la calidad (QA) o control estadístico de procesos como Six Sigma.
Tubo de rayos X de 60 kV y SDD
El tubo de rayos X de 60 kV y el detector de deriva de silicio (SDD) refrigerado por Peltier ofrecen una repetibilidad excepcional a corto plazo y una reproducibilidad a largo plazo con una excelente resolución de pico de elemento. Esta capacidad de alto voltaje (60 kV), alta corriente de emisión y múltiples filtros de tubos de rayos X automatizados brindan versatilidad a una amplia gama de aplicaciones XRF y límites de detección (LOD) bajos.
Inyectores automáticos, helio y FP sin estándares opcionales
Las opciones incluyen parámetros fundamentales, una variedad de cambiadores de muestras automáticos, un girador de muestras y una purga de helio.
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