Geometría cartesiana avanzada de próxima generación EDXRF para análisis elemental cualitativo y cuantitativo rápido
Ventajas y características clave
NEX CG II, un potente espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía (EDXRF) de segunda generación, ofrece una rápida determinación cualitativa y cuantitativa de los elementos atómicos principales y secundarios en una amplia variedad de tipos de muestras, desde aceites y líquidos hasta sólidos, metales y polímeros. , polvos, pastas, recubrimientos y películas delgadas.
- Análisis elemental no destructivo de sodio (Na) a uranio (U)
- Análisis elementales rápidos de sólidos, líquidos, polvos, recubrimientos y películas delgadas
- Excitación indirecta para límites de detección excepcionalmente bajos
- Tubo de rayos X de alta potencia de 50 kV y 50 W
- Detector de deriva de silicio (SDD) de alto rendimiento y área grande
- Análisis en aire, helio o vacío
- Potente y fácil de usar QuantEZ® software con interfaz de usuario multilingüe
- Software avanzado de parámetros fundamentales RPF-SQX con Scattering FP
- Algoritmo avanzado Rigaku Profile Fitting (RPF) para desconvolución de picos
- Varios cambiadores automáticos de muestras que admiten muestras de hasta 52 mm
- Bajo costo de propiedad respaldado por una garantía de 2 años
Video
Notas adicionales
Control de calidad industrial para aplicaciones de investigación avanzada
El Rigaku NEX CG II es un analizador multipropósito de elementos múltiples, ideal para medir concentraciones de elementos traza y ultrabajas en niveles porcentuales. Especialmente adecuado para la determinación semicuantitativa del contenido elemental en incógnitas completas, NEX CG II sirve a muchas industrias. Las aplicaciones van desde la investigación y el desarrollo hasta el aseguramiento de la calidad industrial y en planta. Es fácil de usar para operadores no técnicos pero lo suficientemente potente para uso experto en laboratorios comerciales e instalaciones de I+D. Los usuarios pueden lograr los límites más bajos de detección y administrar fácilmente aplicaciones complejas como probar suelos agrícolas y materiales vegetales, analizar alimentos terminados para animales, medir aceites usados, monitorear el medio ambiente y muchos otros.
Geometría cartesiana y polarización para sensibilidad de nivel de traza
A diferencia de los espectrómetros EDXRF convencionales, NEX CG II es un sistema de excitación indirecta que utiliza objetivos secundarios en lugar de filtros de tubo. La excitación monocromática y polarizada de objetivos secundarios mejora enormemente los límites de detección de elementos en matrices de alta dispersión como agua, hidrocarburos y materiales biológicos. La excitación del objetivo secundario en geometría cartesiana completa de 90° elimina el ruido de fondo. Como resultado, NEX CG II aporta un nuevo nivel de sensibilidad analítica a la tecnología XRF. Los usuarios pueden medir concentraciones ultra bajas y de elementos traza, incluso en tipos de muestras difíciles.
Fácil control de instrumentos con software analítico cualitativo y cuantitativo avanzado
NEX CG II es fácil de usar con QuantEZ, un poderoso software basado en PC que proporciona un control intuitivo del instrumento con una navegación de menú simple y una interfaz de análisis EZ personalizable. Los usuarios pueden maximizar su tiempo y productividad con operaciones rutinarias simplificadas y crear sus propios métodos utilizando un sencillo asistente de barra de flujo.
RPF-SQX reduce la necesidad de estándares
El análisis cualitativo y cuantitativo avanzado está impulsado por el software de parámetros fundamentales (FP) RPF-SQX de Rigaku, que presenta la tecnología Rigaku Profile Fitting (RPF) y Scattering FP. Este sólido software integrado permite el análisis semicuantitativo de casi todos los tipos de muestras sin estándares y el análisis cuantitativo riguroso con estándares. El método de FP de dispersión de Rigaku estima automáticamente la concentración de elementos de número atómico bajo no medibles (H a F) y proporciona las correcciones adecuadas.
Los estándares de calibración pueden ser costosos y difíciles de obtener para muchas aplicaciones. Con RPF-SQX, la cantidad de estándares requeridos se reduce considerablemente, lo que reduce significativamente el costo de propiedad y reduce los requisitos de carga de trabajo para ejecutar análisis de rutina.
Las siguientes notas de aplicación son documentos heredados de NEX CG de primera generación. Reflejan el rendimiento mínimo alcanzable en el NEX CG II.
El kernel óptico de geometría cartesiana 3D único aumenta drásticamente la relación pico-fondo
NEX CG II se basa en el legado de NEX CG de usar geometría cartesiana y objetivos secundarios para la sensibilidad de nivel de traza. NEX CG II presenta un kernel óptico de geometría cartesiana de acoplamiento cerrado único y mejorado que aumenta drásticamente la relación señal-ruido y ofrece un análisis elemental mejorado.
A diferencia de los espectrómetros EDXRF convencionales, NEX CG II es un sistema de excitación indirecta que utiliza objetivos secundarios en lugar de filtros de tubo. La excitación monocromática y polarizada de objetivos secundarios mejora enormemente los límites de detección de elementos en matrices de alta dispersión como agua, hidrocarburos y materiales biológicos. La excitación del objetivo secundario en geometría cartesiana completa de 90° elimina el ruido de fondo. Como resultado, NEX CG II aporta un nuevo nivel de sensibilidad analítica a la tecnología XRF. Los usuarios pueden medir concentraciones ultra bajas y de elementos traza, incluso en tipos de muestras difíciles.
NEX CG II logra esta potencia analítica superior con un tubo de rayos X de ánodo de paladio de ventana final de 50 kV y 50 W, cinco objetivos secundarios que cubren el rango elemental completo de sodio a uranio (Na – U) y un área grande de alto rendimiento. detector de deriva de silicio (SDD). Este kernel óptico único, combinado con el software avanzado de parámetros fundamentales RPF-SQX de Rigaku, ofrece las mediciones EDXRF más sensibles de la industria.