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Advanced Cartesian Geometry EDXRF der nächsten Generation für die schnelle qualitative und quantitative Elementaranalyse

Hauptvorteile und Funktionen

Video | Übersicht & Anwendungshinweise

NEX CG II, ein leistungsstarkes energiedispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer (EDXRF) der zweiten Generation, ermöglicht eine schnelle qualitative und quantitative Bestimmung von Haupt- und Nebenatomelementen in einer Vielzahl von Probentypen – von Ölen und Flüssigkeiten bis hin zu Feststoffen, Metallen und Polymeren , Pulver, Pasten, Beschichtungen und dünne Filme.

  • Zerstörungsfreie Elementanalyse für Natrium (Na) bis Uran (U)
  • Schnelle Elementaranalysen von Feststoffen, Flüssigkeiten, Pulvern, Beschichtungen und dünnen Filmen
  • Indirekte Anregung für besonders niedrige Nachweisgrenzen
  • Hochleistungs-Röntgenröhre 50 kV 50 W
  • Großflächiger Hochdurchsatz-Silizium-Drift-Detektor (SDD)
  • Analyse in Luft, Helium oder Vakuum
  • Leistungsstarkes und einfach zu bedienendes QuantEZ® Software mit mehrsprachiger Benutzeroberfläche
  • Erweiterte RPF-SQX Fundamentals Parameters Software mit Scattering FP
  • Rigaku Profile Fitting (RPF) fortschrittlicher Algorithmus zur Peak-Entfaltung
  • Verschiedene automatische Probenwechsler für bis zu 52-mm-Proben
  • Niedrige Betriebskosten mit 2 Jahren Garantie
Rigaku NEX CG II

Video

Zusätzliche Bemerkungen

Industrielle Qualitätskontrolle bis hin zu fortgeschrittenen Forschungsanwendungen

Das Rigaku NEX CG II ist ein Multi-Element-Mehrzweck-Analysator, ideal für die Messung von ultraniedrigen und Spurenelementkonzentrationen in Prozentbereichen. NEX CG II ist besonders gut geeignet für die halbquantitative Bestimmung des Elementgehalts in völlig unbekannten Bereichen und dient vielen Branchen. Die Anwendungen reichen von Forschung und Entwicklung bis hin zur industriellen und innerbetrieblichen Qualitätssicherung. Es ist für technisch nicht versierte Bediener einfach zu bedienen und dennoch leistungsstark genug für den fachmännischen Einsatz in kommerziellen Labors und F&E-Einrichtungen. Benutzer können die niedrigsten Nachweisgrenzen erreichen und komplexe Anwendungen wie das Testen von landwirtschaftlichen Böden und Pflanzenmaterialien, das Analysieren von fertigem Tierfutter, das Messen von Altölen, die Umweltüberwachung und viele andere problemlos verwalten.

Kartesische Geometrie und Polarisation für die Empfindlichkeit im Spurenbereich

Im Gegensatz zu herkömmlichen EDXRF-Spektrometern ist NEX CG II ein indirektes Anregungssystem, das sekundäre Targets anstelle von Röhrenfiltern verwendet. Die monochromatische und polarisierte Anregung von sekundären Zielen verbessert die Nachweisgrenzen für Elemente in stark streuenden Matrizen wie Wasser, Kohlenwasserstoffen und biologischen Materialien erheblich. Sekundäre Zielanregung in vollständiger kartesischer 90°-Geometrie eliminiert Hintergrundgeräusche. Als Ergebnis bringt NEX CG II ein neues Maß an analytischer Empfindlichkeit in die XRF-Technologie. Benutzer können ultraniedrige Konzentrationen und Spurenelementkonzentrationen messen, selbst bei schwierigen Probentypen.

Einfache Gerätesteuerung mit fortschrittlicher qualitativer und quantitativer Analysesoftware

NEX CG II ist einfach zu bedienen mit QuantEZ, einer leistungsstarken PC-basierten Software, die eine intuitive Gerätesteuerung mit einfacher Menünavigation und einer anpassbaren EZ Analysis-Oberfläche bietet. Benutzer können ihre Zeit und Produktivität mit vereinfachten Routinevorgängen maximieren und ihre eigenen Methoden mit einem einfachen Flussbalken-Assistenten erstellen.

RPF-SQX reduziert den Bedarf an Standards

Die fortschrittliche qualitative und quantitative Analyse wird von Rigakus Software RPF-SQX Fundamental Parameters (FP) mit Rigaku Profile Fitting (RPF)-Technologie und Scattering FP unterstützt. Diese robuste integrierte Software ermöglicht die halbquantitative Analyse fast aller Probentypen ohne Standards – und die rigorose quantitative Analyse mit Standards. Die Scattering FP-Methode von Rigaku schätzt automatisch die Konzentration von nicht messbaren Elementen mit niedriger Ordnungszahl (H bis F) und liefert geeignete Korrekturen.

Kalibrierstandards können für viele Anwendungen teuer und schwierig zu beschaffen sein. Mit RPF-SQX wird die Anzahl der erforderlichen Standards stark reduziert, was die Betriebskosten erheblich senkt und den Arbeitsaufwand für die Durchführung von Routineanalysen reduziert.

Der einzigartige optische Kernel mit kartesischer 3D-Geometrie erhöht das Peak-zu-Hintergrund-Verhältnis dramatisch

NEX CG II baut auf dem Vermächtnis von NEX CG auf, kartesische Geometrie und sekundäre Ziele für die Empfindlichkeit auf Spurenebene zu verwenden. NEX CG II verfügt über einen einzigartigen und verbesserten optischen Kernel mit eng gekoppelter kartesischer Geometrie, der das Signal-Rausch-Verhältnis drastisch erhöht und eine verbesserte Elementanalyse liefert.

Im Gegensatz zu herkömmlichen EDXRF-Spektrometern ist NEX CG II ein indirektes Anregungssystem, das sekundäre Targets anstelle von Röhrenfiltern verwendet. Die monochromatische und polarisierte Anregung von sekundären Zielen verbessert die Nachweisgrenzen für Elemente in stark streuenden Matrizen wie Wasser, Kohlenwasserstoffen und biologischen Materialien erheblich. Sekundäre Zielanregung in vollständiger kartesischer 90°-Geometrie eliminiert Hintergrundgeräusche. Als Ergebnis bringt NEX CG II ein neues Maß an analytischer Empfindlichkeit in die XRF-Technologie. Benutzer können ultraniedrige Konzentrationen und Spurenelementkonzentrationen messen, selbst bei schwierigen Probentypen.

NEX CG II erreicht diese überlegene Analyseleistung mit einer 50 kV 50 W Endfenster-Palladium-Anoden-Röntgenröhre, fünf sekundären Targets, die den gesamten Elementbereich von Natrium bis Uran (Na – U) abdecken, und einer großen Fläche mit hohem Durchsatz Silizium-Drift-Detektor (SDD). Dieser einzigartige optische Kernel, kombiniert mit der fortschrittlichen RPF-SQX Fundamental Parameters Software von Rigaku, liefert die empfindlichsten EDRFA-Messungen der Branche.

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