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用於快速定性和定量元素分析的下一代高級笛卡爾幾何 EDXRF

主要優勢和特點

視頻 | 概述和應用說明

NEX CG II 是一款功能強大的第二代能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 光譜儀,可快速定性和定量測定各種樣品類型(從油和液體到固體、金屬、聚合物)中的主要和次要原子元素、粉末、糊劑、塗料和薄膜。

  • 鈉 (Na) 到鈾 (U) 的無損元素分析
  • 固體、液體、粉末、塗料和薄膜的快速元素分析
  • 用於極低檢測限的間接激發
  • 大功率 50 kV 50 W X 射線管
  • 大面積高通量矽漂移探測器(SDD)
  • 在空氣、氦氣或真空中進行分析
  • 功能強大且易於使用的 QuantEZ® 具有多語言用戶界面的軟件
  • 具有散射 FP 的高級 RPF-SQX 基本參數軟件
  • 用於峰值反捲積的 Rigaku Profile Fitting (RPF) 高級算法
  • 各種自動進樣器,最多可容納 52 mm 樣品
  • 2 年保修支持的低擁有成本
Rigaku NEX CG II

視頻

補充說明

工業質量控製到高級研究應用

Rigaku NEX CG II 是一種多元素、多用途分析儀,非常適合將超低和微量元素濃度測量到百分比水平。 NEX CG II 特別適用於完全未知元素中元素含量的半定量測定,服務於許多行業。應用範圍從研發到工業和廠內質量保證。它易於非技術操作員使用,但功能強大,足以供商業實驗室和研發設施的專家使用。用戶可以達到最低的檢測限並輕鬆管理複雜的應用,例如測試農業土壤和植物材料、分析成品動物飼料、測量廢油、環境監測等等。

用於痕量級靈敏度的笛卡爾幾何和極化

與傳統的 EDXRF 光譜儀不同,NEX CG II 是一種間接激發系統,使用次要目標而不是管式過濾器。來自次要目標的單色和偏振激發極大地提高了高散射基質(如水、碳氫化合物和生物材料)中元素的檢測限。全 90° 笛卡爾幾何中的次要目標激發消除了背景噪聲。因此,NEX CG II 將 XRF 技術的分析靈敏度提高到了一個新的水平。即使在具有挑戰性的樣品類型中,用戶也可以測量超低和微量元素濃度。

使用先進的定性和定量分析軟件輕鬆控制儀器

NEX CG II 易於與 QuantEZ 一起使用,QuantEZ 是一款功能強大的基於 PC 的軟件,通過簡單的菜單導航和可定制的 EZ 分析界面提供直觀的儀器控制。用戶可以通過簡化的日常操作最大限度地提高時間和生產力,並使用簡單的流程條嚮導創建自己的方法。

RPF-SQX 減少了對標準的需求

高級定性和定量分析由 Rigaku 的 RPF-SQX 基本參數 (FP) 軟件提供支持,該軟件採用 Rigaku Profile Fitting (RPF) 技術和散射 FP。這款強大的集成軟件允許對幾乎所有不帶標準的樣品類型進行半定量分析 - 以及使用標准進行嚴格的定量分析。 Rigaku 的散射 FP 方法自動估算不可測量的低原子序數元素(H 到 F)的濃度並提供適當的校正。

對於許多應用而言,校準標準可能很昂貴且難以獲得。使用 RPF-SQX,所需標準的數量大大減少,顯著降低了擁有成本並減少了運行常規分析的工作量要求。

獨特的 3D 笛卡爾幾何光學內核顯著提高峰背景比

NEX CG II 建立在 NEX CG 使用笛卡爾幾何和次要目標以實現痕量級靈敏度的傳統之上。 NEX CG II 具有獨特且改進的緊密耦合笛卡爾幾何光學內核,可顯著提高信噪比並提供增強的元素分析。

與傳統的 EDXRF 光譜儀不同,NEX CG II 是一種間接激發系統,使用次要目標而不是管式過濾器。來自次要目標的單色和偏振激發極大地提高了高散射基質(如水、碳氫化合物和生物材料)中元素的檢測限。全 90° 笛卡爾幾何中的次要目標激發消除了背景噪聲。因此,NEX CG II 將 XRF 技術的分析靈敏度提高到了一個新的水平。即使在具有挑戰性的樣品類型中,用戶也可以測量超低和微量元素濃度。

NEX CG II 通過 50 kV 50 W 端窗鈀陽極 X 射線管、覆蓋整個鈉到鈾 (Na – U) 元素範圍的五個二級靶標以及高通量大面積矽漂移探測器(SDD)。這種獨特的光學內核與 Rigaku 先進的 RPF-SQX 基本參數軟件相結合,可提供業內最靈敏的 EDXRF 測量。

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