Hochleistungs-EDXRF-Tischanalysator
Hauptvorteile und Funktionen
Als hochleistungsfähiger Benchtop-Elementaranalysator mit energiedispersiver Röntgenfluoreszenz (EDXRF) bietet der Rigaku NEX DE eine breite elementare Abdeckung mit einfach zu erlernenden Fenstern®-basierte QuantEZ-Software. Analysieren Sie zerstörungsfrei von Natrium (Na) bis Uran (U) in fast jeder Matrix, von Feststoffen und Legierungen bis hin zu Pulvern, Flüssigkeiten und Schlämmen.
- Analysieren Sie zerstörungsfrei Natrium zu Uran
- Leistungsstarke QuantEZ-Software
- Feststoffe, Flüssigkeiten, Legierungen, Pulver und Filme
- 60-kV-Röntgenröhre für breite elementare Abdeckung
- SDD-Detektor für überlegene Daten
- Sechs automatisierte Röhrenfilter
- Unübertroffenes Preis-Leistungs-Verhältnis
- Optionale fundamentale RPF-SQX-Parameter
Video
Zusätzliche Bemerkungen
XRF-Elementaranalyse im Feld, in der Anlage oder im Labor
Die überlegene Analyseleistung, Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit des NEX DE wurde speziell für den harten industriellen Einsatz entwickelt und konstruiert, sei es in der Fertigungshalle oder in abgelegenen Feldumgebungen, und trägt zu seiner breiten Attraktivität für ein ständig wachsendes Anwendungsspektrum bei , einschließlich Exploration, Forschung, Massen-RoHS-Inspektion und Schulung sowie Anwendungen zur Industrie- und Produktionsüberwachung. Ob es sich um eine einfache Qualitätskontrolle (QC) oder anspruchsvollere Varianten wie analytische Qualitätskontrolle (AQC), Qualitätssicherung (QA) oder statistische Prozesskontrolle wie Six Sigma handelt – das NEX DE ist die zuverlässige Hochleistungswahl für routinemäßige Elementaranalyse durch XRF.
XRF mit 60-kV-Röntgenröhre und SDD-Detektor
Die 60-kV-Röntgenröhre und der Peltier-gekühlte Silizium-Drift-Detektor (SDD) liefern eine außergewöhnliche Kurzzeit-Reproduzierbarkeit und Langzeit-Reproduzierbarkeit mit ausgezeichneter Element-Peak-Auflösung. Diese Hochspannungsfähigkeit (60 kV) bietet zusammen mit einem hohen Emissionsstrom und mehreren automatisierten Röntgenröhrenfiltern eine breite Palette von XRF-Anwendungen, Vielseitigkeit und niedrige Nachweisgrenzen (LOD).
XRF-Optionen: Autosampler, Vakuum, Helium und standardloses FP
Zu den Optionen gehören grundlegende Parameter, eine Vielzahl automatischer Probenwechsler, Probendreher und Heliumspülung oder Vakuumatmosphäre für eine verbesserte Empfindlichkeit gegenüber leichten Elementen.
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