高性能台式 EDXRF 分析儀
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補充說明
- 產品概述
- 應用筆記
現場、工廠或實驗室中的 XRF 元素分析
專為重工業應用而設計和設計,無論是在工廠車間還是在偏遠的現場環境中,NEX DE 卓越的分析能力、靈活性和易用性為其不斷擴大的應用範圍增添了廣泛的吸引力,包括勘探、研究、批量 RoHS 檢測和教育,以及工業和生產監控應用。無論需要基本質量控制 (QC) 還是其更複雜的變體——例如分析質量控制 (AQC)、質量保證 (QA) 或像六西格碼這樣的統計過程控制——NEX DE 都是可靠的高性能選擇通過 XRF 進行常規元素分析。
帶有 60 kV X 射線管和 SDD 檢測器的 XRF
60 kV X 射線管和 Peltier 冷卻矽漂移檢測器 (SDD) 提供出色的短期重複性和長期重現性以及出色的元素峰值分辨率。這種高電壓能力 (60 kV) 以及高發射電流和多個自動 X 射線管過濾器提供了廣泛的 XRF 應用多功能性和低檢測限 (LOD)。
XRF 選項:自動進樣器、真空、氦氣和無標樣 FP
選項包括基本參數、各種自動進樣器、樣品旋轉器和氦氣吹掃或真空氣氛,以提高輕元素的靈敏度。
Windows 是微軟公司在美國和其他國家的註冊商標。