X 射線透射
X 射線透射/吸收測量
石油工藝流中硫分析的基本 XRT / XRA 理論
X 射線透射 (XRT) 測量長期以來一直是用於測量重烴工藝流中的硫 (S) 的公認技術。無論是用於管道切換、原油混合還是用於分析或混合船用燃料和船用燃料，Rigaku NEX XT XRT 過程分析儀非常適合嚴苛的過程環境，壓力高達 1480 psig，溫度高達 200°C。
X 射線透射測量涉及測量單色 X 射線束在特定於硫 (S) 的特定能量 (21 keV) 下的衰減。在實踐中，工藝流通過流通池，其中碳氫化合物基質中的硫 (S) 吸收在 X 射線源和檢測器之間傳輸的 X 射線（參見左側示意圖）。記錄的 X 射線強度與硫濃度成反比，因此最高硫水平傳輸的 X 射線最少。
X 射線通過流通池的傳輸由以下等式給出：
T=I/I○=exp-dt[μ米（1-Cs)+ μsCs]
在哪裡：
I = 測量的 X 射線強度（在流通池之後，以光子/秒為單位）
我○ = 初始 X 射線強度（在流通池之前，以光子/秒為單位）
d = 烴流的密度
t = 流通池路徑的厚度（以 cm 為單位）
μ米 = 碳氫化合物基質的摩爾吸收率 @ 21 keV (cm2/gm)
μs = 硫的摩爾吸收率 @ 21 keV (cm2/gm)
Cs = 硫的重量分數 (% wt/wt)
| 元素 | 摩爾吸收率 @ 21 keV |
| H | 0.37 |
| C | 0.41 |
| ○ | 0.79 |
| 小號 | 5.82 |
如表所示，選擇 21 keV 作為測量中使用的 X 射線的能量是因為：1）C 和 H 的摩爾吸收率幾乎相同，2）硫的吸收比 C 大 14 倍XH是的 基體，比氧氣大 7 倍。因此，該方法對 C:H 比的變化不敏感，主要只對硫含量敏感。